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静电复印显影剂用纳米四氧化三铁 纳米四氧化三铁(Fe3O4)粉体,具有磁性,且在外磁场下能够定向移动,粒径在一定范围之内具有超顺磁性,以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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特种涂料用纳米四氧化三铁 纳米四氧化三铁(Fe3O4)粉体,具有磁性,且在外磁场下能够定向移动,粒径在一定范围之内具有超顺磁性,以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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微波吸收材料用纳米四氧化三铁 纳米四氧化三铁(Fe3O4)粉体,具有磁性,且在外磁场下能够定向移动,粒径在一定范围之内具有超顺磁性,以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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高梯度磁分离器用纳米四氧化三铁 纳米四氧化三铁(Fe3O4)粉体,具有磁性,且在外磁场下能够定向移动,粒径在一定范围之内具有超顺磁性,以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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磁记录材料用纳米四氧化三铁 纳米四氧化三铁(Fe3O4)粉体,具有磁性,且在外磁场下能够定向移动,粒径在一定范围之内具有超顺磁性,以及在外加交变电磁场作
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2024-12-09 |
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气敏元件材料用纳米二氧化锡 UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-12-07 |
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银锡触头材料用纳米二氧化锡 UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-12-07 |
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抗静电材料用纳米二氧化锡 UG-S20;UG-S50纯 度:光谱法分析测试杂质含量。晶粒度:X衍射(XRD)线宽化法平均晶粒的测定。颗粒度:GB/T13221纳米粉末粒度分
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2024-12-07 |